《Small》：通過超快光子燒結(jié)抑制膠體量子點(diǎn)固體中的熱致表面陷阱（IF=13.392）

背景：膠體量子點(diǎn)（CQD）薄膜的熱退火（TA）過程被認(rèn)為是提高膠體量子點(diǎn)太陽能電池（CQDSCs）性能的重要步驟。這是因為TA對CQD固體有多種有益影響，包括提高電導(dǎo)率、使CQD薄···